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Optotom e Nikon Metrology si sono aggiudicate la gara d'appalto per la fornitura di un sistema di tomografia computerizzata a raggi X per grandi superfici all'Università di Tecnologia di Kielce, in Polonia. Il sistema Nikon M2 è un sistema di ispezione modulare ad alta precisione, dotato di un manipolatore a 8 assi brevettato, ultra preciso e stabile, costruito su una base in granito di grado metrologico.
A seconda dell'applicazione, l'utente può scegliere tra 3 diverse sorgenti: l'esclusiva sorgente microfocus da 450 kV di Nikon con bersaglio rotante per la scansione di campioni di grandi dimensioni e ad alta densità con risoluzione micrometrica, una sorgente minifocus da 450 kV per la scansione ad alta velocità e una sorgente microfocus da 225 kV con bersaglio rotante per campioni più piccoli. Il sistema sarà dotato sia di un rivelatore a pannello piatto che del rivelatore proprietario Nikon Curved Linear Diode Array (CLDA), che ottimizza la raccolta dei raggi X senza catturare i raggi X diffusi indesiderati, garantendo una nitidezza e un contrasto dell'immagine straordinari.
Il sistema M2 è ideale per l'ispezione di componenti di dimensioni variabili, da piccoli campioni a bassa densità a materiali di grandi dimensioni e ad alta densità. L'installazione del sistema avverrà in un bunker appositamente costruito. Le pareti di 1,2 m sono già predisposte per futuri aggiornamenti a livelli di energia superiori. Questo sistema, completo di tutte le opzioni, sarà uno dei più grandi sistemi M2 al mondo, offrendo all'Università di Kielce un'estrema flessibilità per supportare tutte le possibili applicazioni, sia in ambito di ricerca che industriale.
Parametri di base del sistema:
- Sorgente di radiazione minifocale da 450 kV
- Sorgente di radiazione a microfuoco da 450 kV, tipo "Bersaglio rotante"
- Sorgente di radiazioni da 225 kV del tipo "Bersaglio rotante".
- Sorgente di radiazioni a bersaglio multimetallico da 225 kV
- Rivelatore lineare Nikon CLDA
- pannello rivelatore con una risoluzione di 16 milioni di pixel
- la possibilità di testare componenti fino a 100 kg
Data di pubblicazione: 25 dicembre 2021